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中国分析测试协会科学技术奖发展回顾

作者:编者:张渝英//丁辉 出版社:北京科技
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  • 出版社:北京科技
  • ISBN:9787530478295
  • 作者:编者:张渝英//丁辉
  • 页数:396
  • 出版日期:2015-07-01
  • 印刷日期:2015-07-01
  • 包装:平装
  • 开本:16开
  • 版次:1
  • 印次:1
  • 字数:800千字